中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 43143-2023 无损检测 声发射检测 混凝土结构活动裂缝分类的检测方法（中英文版） Nondestructive testing Acoustic emission testing Detection method for classification of active cracks in concrete structures |
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GB/T 43144-2023 无损检测 声发射检测 钢筋混凝土梁损伤评定的检测方法（中英文版） Nondestructive testing Acoustic emission testing Testing methods for damage assessment of reinforced concrete beams |
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GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法（中英文版） Single-event soft error time domain testing method for semiconductor integrated circuits used in aerospace applications |
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GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法（中英文版） Testing the quality of semiconductor single crystals X-ray diffraction method |
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GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法（中英文版） Testing of semiconductor wafer resistivity and semiconductor film sheet resistance non-contact eddy current method |
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GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法（中英文版） Testing of surface defects of silicon carbide epitaxial wafers Laser scattering method |
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GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法（中英文版） Testing of Silicon Carbide Epitaxial Layer Thickness Infrared Reflection Method |
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GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法（中英文版） Testing of non-equilibrium carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon blocks and silicon wafers Non-contact eddy current induction method |
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GB/T 42871-2023 无损检测 声发射检测 混凝土声发射信号的测试方法（中英文版） Non-destructive testing Acoustic emission testing Test method for acoustic emission signal of concrete |
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SN/T 2775-2023 商品化食品检测试剂盒评价方法（中英文版） Evaluation method of commercial food testing kits |
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GB/T 42694-2023 纺织品 表面抗润湿性能的检测和评价 接触角和滚动角法（中英文版） Textiles - Testing and evaluation of surface wetting resistance - Contact angle and rolling angle method |
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YY/T 1907-2023 人工智能医疗器械 冠状动脉CT影像处理软件 算法性能测试方法（中英文版） Artificial Intelligence Medical Devices Coronary CT Image Processing Software Algorithm Performance Testing Methods |
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GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法（中英文版） Semiconductor devices - Non-destructive testing and identification criteria for defects in silicon carbide homoepitaxial wafers for power devices - Part 3: Photoluminescence detection method of defects |
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GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法（中英文版） Testing of surface quality and microtube density of polished silicon carbide wafers by confocal differential interference method |
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GB/T 43418-2023 亚麻纤维组成成分的检测方法（中英文版） Method for testing the composition of flax fiber |
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JC/T 2708-2022 真空玻璃传热系数检测方法（中英文版） Testing method for heat transfer coefficient of vacuum glass |
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JT/T 1446-2022 营运车辆前向碰撞减缓系统性能要求和检测方法（中英文版） Performance requirements and testing methods of forward collision mitigation system for commercial vehicles |
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YY/T 1807-2022 牙科学 修复用金属材料中主要成分的快速无损检测 手持式X射线荧光光谱仪法（半定量法）（中英文版） Dentistry Rapid non-destructive testing of main components in restorative metal materials Hand-held X-ray fluorescence spectrometer method (semi-quantitative method) |
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YD/T 4068-2022 基于云计算技术的IPv4-IPv6业务互通交换中心安全系统测试方法（中英文版） Testing method for security system of IPv4-IPv6 service interworking switching center based on cloud computing technology |
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GB/T 41470-2022 数字教材 中小学数字教材质量要求和检测方法（中英文版） Quality requirements and testing methods of digital textbooks in primary and secondary schools |
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